31.200 Integrētās shēmas. Mikroelektronika

Attēlo no 1. līdz 12. no pavisam 72 ieraksta(-iem).

LVS EN 60747-16-10:2005

standarts

EN
Pusvadītājierīces - 16-10.daļa: Monolīto superaugstfrekvences integrēto shēmu tehniskās aprobēšanas kontrolplāns
Skatīt

21.39 €

LVS EN 60747-16-3:2002

standarts

EN
Pusvadītājierīces - 16-3.daļa: Mikroviļņu diapazona integrētās shēmas - Frekvences pārveidotāji
Skatīt

19.28 €

LVS EN 60747-16-3:2002 /A1:2009

grozījums

EN
Pusvadītājierīces. 16-3. daļa: Mikroviļņu diapazona integrētās shēmas. Frekvences pārveidotāji (IEC 60747-16-3:2002/A1:2009)
Skatīt

LVS EN 61523-1:2002

standarts

EN
Aizkaves un strāvas rēķināšanas standarti - Integrēto shēmu aizkaves un jaudas rēķināšanas sistēmas
Skatīt

31.42 €

LVS EN 61747-4:2003

standarts

EN
Displeju un šķidro kristālu displeju ierīces - 4.daļa: Šķidro kristālu displeju moduļi un šūnas - Būtiskās robežvērtības un raksturlielumi
Skatīt

10.56 €

LVS EN 61943:2003

standarts

EN
Integrētās shēmas - Ražošanas līniju aprobēšanas instrukcija
Skatīt

16.11 €

LVS EN 61964:2003

standarts

EN
Integrētās shēmas - Atmiņas ierīču kontaktu konfigurācijas
Skatīt

15.31 €

LVS EN 61967-1:2002

standarts

EN
Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 1.daļa: Pamatnosacījumi un definīcijas
Skatīt

16.11 €

LVS EN 61967-2:2006

standarts

EN
Integrētās shēmas. 150 kHz līdz 1 GHz elektromagnētisko emisiju mērīšana. 2.daļa: Starojumemisiju mērīšana. TEM šūnu un platjoslas TEM šūnu metode
Skatīt

15.31 €

LVS EN 61967-4:2002

standarts

EN
Integrētās shēmas - Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi - 4.daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana - 1 oma/150 omu tiešo savienojuma metode
Skatīt

17.69 €

LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006

grozījums

EN
Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4.daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/ 150 omu tiešā savienojuma metode
Skatīt

LVS EN 61967-4:2002 /A1:2006 /AC:2007

koriģējums

EN
Integrētās shēmas. Elektromagnētisko emisiju no 150 kHz līdz 1 GHz mērījumi. 4. daļa: Konduktīvu emisiju mērīšana. 1 oma/150 omu tiešā savienojuma metode
Skatīt