ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 84289 | ISO/CD 13139 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The measurement of the dislocation density in thin metals | Izstrādē |
| 91666 | ISO/AWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 95442 | ISO/AWI 23420 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la résolution énergétique pour l'analyse spectrale de la perte d'énergie des électrons | Izstrādē |
| 86942 | ISO 29301:2023 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Standarts spēkā |
| 70360 | ISO 29301:2017 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures | Atcelts |
| 45399 | ISO 29301:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique en transmission analytique — Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques | Atcelts |
| 87733 | ISO 25498:2025 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Standarts spēkā |
| 70359 | ISO 25498:2018 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 42951 | ISO 25498:2010 | Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission | Atcelts |
| 90100 | ISO 25387:2026 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope | Standarts spēkā |
Attēlo no 11. līdz 20. no pavisam 26 ieraksta(-iem).