ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 90100 | ISO/DIS 25387 | Titre manque | Aptauja |
| 91666 | ISO/PWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 91808 | ISO/AWI 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
| 92612 | ISO/NP 26100 | Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — The thickness measurement of thin foil by electron energy loss spectroscopy | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 25. no pavisam 25 ieraksta(-iem).