ISO/TC 202/SC 3
| Reģistrācijas numurs (WIID) | Projekta Nr. | Nosaukums | Statuss |
|---|---|---|---|
| 90100 | ISO/DIS 25387 | Titre manque | Izstrādē |
| 91666 | ISO/PWI 25835 | Titre manque | Izstrādē |
| 91667 | ISO/PWI 25836 | Titre manque | Izstrādē |
| 91808 | ISO/NP 25871 | Microbeam analysis --Analytical electron microscopy — Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction | Izstrādē |
Attēlo no 21. līdz 24. no pavisam 24 ieraksta(-iem).