31.080 Pusvadītājierīces
Numurs | Nosaukums |
---|---|
31.080.01 | Pusvadītājierīces. Vispārīgi |
31.080.10 | Diodes |
31.080.20 | Tiristori |
31.080.30 | Tranzistori |
31.080.99 | Citas pusvadītājierīces |
Attēlo no 1. līdz 12. no pavisam 15 ieraksta(-iem).
LVS HD 576 S1:2005
standarts
EN
IEC 60822 VSB. IEC 60821 VME kopnes paralēlās apakšsistēmas kopne (IEC 60822:1988)
31.42 €
LVS EN 60191-4:2014
standarts
EN
Pusvadītājierīču konstrukciju standartizācija. 4. daļa: Pusvadītājierīču korpusu kodēšanas sistēma un klasifikācija pēc formas (IEC 60191-4:2013)
15.31 €
LVS EN 60191-4:2014/A1:2018
grozījums
EN
Pusvadītājierīču konstrukciju standartizācija. 4.daļa: Pusvadītājierīču korpusu kodēšanas sistēma un klasifikācija pēc formas (IEC 60191-4:2013/A1:2018)
12.15 €
LVS EN 60749-21:2005
standarts
EN
Pusvadītājierīces - Mehāniskā un klimatiskā testēšana - 21.daļa: Pielodējamība
14.26 €
LVS EN 60749-29:2004 +AC
standarts
EN
Pusvadītāju ierīces - Mehānisko un klimatisko testu metodes - 29.daļa: Sprūdefekta tests
15.31 €
LVS EN 60749-34:2004
standarts
EN
Pusvadītājierīces - Mehānisko un klimatisko testu metodes - 34.daļa: Testēšana ar ciklisku jaudas maiņu
9.78 €
LVS EN 62373:2006
standarts
EN
Metāla oksīda pusvadītāja lauktranzistoru (MOSFET) testēšana attiecībā uz ilgizturību pret augstu temperatūru un spriegumu
11.35 €
LVS EN 62374-1:2011
standarts
EN
Pusvadītājierīces. 1. daļa: Starpmetālisko slāņu testēšana ar „Laikatkarīgās dielektriskās caursites” (TDDB) testu (IEC 62374-1:2010)
12.15 €
LVS EN 62374-1:2011 /AC:2011
koriģējums
EN
Pusvadītājierīces. 1. daļa: Starpmetālisko slāņu testēšana ar „Laikatkarīgās dielektriskās caursites” (TDDB) testu
0.00 €
LVS EN 62374:2008
standarts
EN
Pusvadītājierīces. Tests „Laikatkarīgā dielektriskā caursite” (TDDB) aizvaru dielektriskajām plēvēm
15.31 €
LVS EN 62415:2010
standarts
EN
Pusvadītājierīces. Konstantās strāvas elektromigrācijas tests (IEC 62415:2010)
10.56 €
LVS EN 62416:2010
standarts
EN
Pusvadītājierīces. Karstā lādiņnesēja tests MOS tranzistoriem (IEC 62416:2010)
9.78 €