71.040.40 Ķīmiskās analīzes
Attēlo no 133. līdz 144. no pavisam 243 ieraksta(-iem).
ISO 17109:2022
standarts
EN
Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
97.87 €
LVS EN 17256:2020
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Melno graudu alkaloīdu un tropāna alkaloīdu noteikšana barības sastāvdaļās un barības maisījumos ar LC-MS/MS
18.48 €
LVS EN 17294:2019
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Organisko skābju noteikšana ar jonu hromatogrāfiju ar vadītspējas detektoru (IC-CD)
17.69 €
LVS EN 17298:2019
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Benzoskābes un sorbīnskābes noteikšana ar augstspiediena šķidruma hromatogrāfiju (HPLC)
12.93 €
ISO 17331:2004
standarts
EN
Surface chemical analysis Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
72.66 €
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
grozījums
EN
13.35 €
ISO 17560:2002
standarts
EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
48.19 €
ISO 17560:2014
standarts
EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
48.19 €
LVS CEN/TR 17674:2021
tehniskais ziņojums (TR)
EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Stabilu oglekļa, ūdeņraža, skābekļa un slāpekļa izotopu attiecību izmantošana, lai pārbaudītu bioloģisku izejvielu izcelsmi un ražošanas procesu īpašības. Esošo lietojumu pārskats
17.69 €
LVS EN 17813:2023
standarts
EN
Vides cietvielu matricas. Halogēna un sēra noteikšana pēc oksidatīvās pirohidrolīzes ar jonu hromatogrāfiju
14.26 €
ISO 17862:2013
standarts
EN
Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
48.19 €
ISO 17862:2022
standarts
EN
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
72.66 €