71.040.40 Ķīmiskās analīzes
Attēlo no 133. līdz 144. no pavisam 248 ieraksta(-iem).
LVS EN 16785-2:2018
standarts
EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes vielu saturs. 2.daļa: Bioloģiskas izcelsmes vielu satura noteikšana ar materiālu bilances metodi
13.97 €
ISO 16962:2005
standarts
EN
Surface chemical analysis Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
68.85 €
ISO 16962:2017
standarts
EN
Surface chemical analysis Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
187.48 €
ISO 17109:2015
standarts
EN
Surface chemical analysis Depth profiling Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
68.85 €
ISO 17109:2022
standarts
EN
Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
139.82 €
LVS EN 17256:2020
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Melno graudu alkaloīdu un tropāna alkaloīdu noteikšana barības sastāvdaļās un barības maisījumos ar LC-MS/MS
21.25 €
LVS EN 17294:2019
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Organisko skābju noteikšana ar jonu hromatogrāfiju ar vadītspējas detektoru (IC-CD)
20.34 €
LVS EN 17298:2019
standarts
EN
Dzīvnieku barība. Paraugu ņemšanas un analīzes metodes. Benzoskābes un sorbīnskābes noteikšana ar augstspiediena šķidruma hromatogrāfiju (HPLC)
14.87 €
ISO 17331:2004
standarts
EN
Surface chemical analysis Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
103.80 €
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
grozījums
EN
19.07 €
ISO 17560:2002
standarts
EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
68.85 €
ISO 17560:2014
standarts
EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
68.85 €