71.040.40 Ķīmiskās analīzes

Attēlo no 121. līdz 132. no pavisam 243 ieraksta(-iem).

LVS CEN/TS 16640:2014

standarts

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes oglekļa satura noteikšana produktos ar radioaktīvā oglekļa metodi
Skatīt

19.28 €

LVS EN 16640:2017

standarts

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes oglekļa saturs. Bioloģiskas izcelsmes oglekļa satura noteikšana ar radioaktīvā oglekļa metodi
Skatīt

17.69 €

LVS EN 16640:2017/AC:2017

koriģējums

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes oglekļa saturs. Bioloģiskas izcelsmes oglekļa satura noteikšana ar radioaktīvā oglekļa metodi
Skatīt

ISO 16664:2004

standarts

EN
Gas analysis Handling of calibration gases and gas mixtures Guidelines
Skatīt

48.19 €

ISO 16664:2017

standarts

EN
Gas analysis Handling of calibration gases and gas mixtures Guidelines
Skatīt

72.66 €

LVS EN ISO 16664:2008

standarts

EN
Gāzu analīze. Darbs ar kalibrēšanas gāzēm un gāzu maisījumiem. Vadlīnijas (ISO 16664:2004)
Skatīt

14.26 €

LVS EN ISO 16664:2017

standarts

EN
Gāzu analīze. Kalibrēšanas gāzu un gāzu maisījumu apstrāde. Vadlīnijas (ISO 16664:2017)
Skatīt

15.31 €

LVS EN 16785-1:2016

standarts

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes vielu satura noteikšana ar radioaktīvā oglekļa analīzi un elementāro analīzi
Skatīt

15.31 €

LVS EN 16785-2:2018

standarts

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Bioloģiskas izcelsmes vielu saturs. 2.daļa: Bioloģiskas izcelsmes vielu satura noteikšana ar materiālu bilances metodi
Skatīt

12.15 €

ISO 16962:2005

standarts

EN
Surface chemical analysis Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Skatīt

48.19 €

ISO 16962:2017

standarts

EN
Surface chemical analysis Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Skatīt

131.24 €

ISO 17109:2015

standarts

EN
Surface chemical analysis Depth profiling Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
Skatīt

48.19 €