71.040.40 Ķīmiskās analīzes

Attēlo no 145. līdz 156. no pavisam 252 ieraksta(-iem).

ISO 17331:2004

standarts

EN
Surface chemical analysis Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Skatīt

105.92 €

ISO 17331:2004/Amd 1:2010

grozījums

EN
Skatīt

19.07 €

ISO 17560:2002

standarts

EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
Skatīt

70.97 €

ISO 17560:2014

standarts

EN
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for depth profiling of boron in silicon
Skatīt

70.97 €

LVS CEN/TR 17674:2021

tehniskais ziņojums (TR)

EN
Bioloģiskas izcelsmes produkti. Stabilu oglekļa, ūdeņraža, skābekļa un slāpekļa izotopu attiecību izmantošana, lai pārbaudītu bioloģisku izejvielu izcelsmi un ražošanas procesu īpašības. Esošo lietojumu pārskats
Skatīt

20.34 €

LVS EN 17813:2023

standarts

EN
Vides cietvielu matricas. Halogēna un sēra noteikšana pēc oksidatīvās pirohidrolīzes ar jonu hromatogrāfiju
Skatīt

16.40 €

ISO 17862:2013

standarts

EN
Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Skatīt

70.97 €

ISO 17862:2022

standarts

EN
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Skatīt

142.99 €

ISO 17973:2002

standarts

EN
Surface chemical analysis — Medium-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental analysis
Skatīt

70.97 €

ISO 17973:2016

standarts

EN
Surface chemical analysis Medium-resolution Auger electron spectrometers Calibration of energy scales for elemental analysis
Skatīt

70.97 €

ISO 17973:2024

standarts

EN
Surface chemical analysis — Medium-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental analysis
Skatīt

70.97 €

ISO 17974:2002

standarts

EN
Surface chemical analysis — High-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Skatīt

168.41 €