71.040.40 Ķīmiskās analīzes
Attēlo no 109. līdz 120. no pavisam 243 ieraksta(-iem).
ISO 15796:2005
standarts
EN
Gas analysis Investigation and treatment of analytical bias
114.92 €
LVS EN ISO 15796:2008
standarts
EN
Gāzu analīze. Analītiskās kļūdas izpēte un apstrāde (ISO 15796:2005)
18.48 €
LVS EN 15964:2011
standarts
EN
Daudzkārt izmantojamās testēšanas ierīces alkohola daudzuma noteikšanai izelpā. Prasības un testēšanas metodes
17.69 €
ISO/TR 15969:2001
tehniskais ziņojums (TR)
EN
Surface chemical analysis Depth profiling Measurement of sputtered depth
48.19 €
ISO/TR 15969:2021
tehniskais ziņojums (TR)
EN
Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Measurement of sputtered depth
72.66 €
ISO 16129:2012
standarts
EN
Surface chemical analysis X-ray photoelectron spectroscopy Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
48.19 €
ISO 16129:2018
standarts
EN
Surface chemical analysis X-ray photoelectron spectroscopy Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
72.66 €
ISO 16242:2011
standarts
EN
Surface chemical analysis Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
48.19 €
ISO 16243:2011
standarts
EN
Surface chemical analysis Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
48.19 €
LVS EN 16280:2013
standarts
EN
Plašā sabiedrībā lietojamās testēšanas ierīces alkohola daudzuma noteikšanai izelpā. Prasības un testēšanas metodes
14.26 €
ISO 16531:2013
standarts
EN
Surface chemical analysis Depth profiling Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
48.19 €
ISO 16531:2020
standarts
EN
Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
97.87 €